DB-FIB

တစ်ပိုင်းလျှပ်ကူးပစ္စည်း အီလက်ထရွန်းနစ်နှင့် ပေါင်းစပ်ပတ်လမ်းနည်းပညာများ လျင်မြန်စွာ တိုးတက်လာမှုနှင့်အတူ၊ စက်ပစ္စည်းနှင့် ဆားကစ်ဖွဲ့စည်းပုံများ၏ ရှုပ်ထွေးမှုများသည် မိုက်ခရိုအီလက်ထရွန်းနစ် ချစ်ပ်ပြားများကို စစ်ဆေးခြင်း၊ ချို့ယွင်းချက် ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာခြင်းနှင့် မိုက်ခရို/နာနို ထုတ်လုပ်ခြင်းအတွက် လိုအပ်ချက်များ တိုးမြင့်လာပါသည်။Dual Beam FIB-SEM စနစ်၎င်း၏ အစွမ်းထက်သော တိကျသော စက်ပစ္စည်းနှင့် မိုက်ခရိုစကုပ်ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာမှုစွမ်းရည်များဖြင့်၊ မိုက်ခရိုအီလက်ထရွန်းနစ် ဒီဇိုင်းနှင့် ထုတ်လုပ်ရေးတွင် မရှိမဖြစ်လိုအပ်လာပါသည်။

Dual Beam FIB-SEM စနစ်Focused Ion Beam (FIB) နှင့် Scanning Electron Microscope (SEM) နှစ်ခုလုံးကို ပေါင်းစပ်ထားသည်။ ၎င်းသည် FIB-based micromachining လုပ်ငန်းစဉ်များကို အချိန်နှင့်တပြေးညီ SEM ကြည့်ရှုနိုင်စေပြီး၊ အီလက်ထရွန်အလင်းတန်း၏ မြင့်မားသော spatial resolution ကို ion beam ၏ တိကျသောပစ္စည်းလုပ်ဆောင်နိုင်စွမ်းများနှင့် ပေါင်းစပ်ထားသည်။